Высокомощный отбор проб для мониторинга в реальном времениПромышленная лазерная система мониторинга фокуса (ILMS)

Хайнер Оптикс, США.DatarayПредоставляя пользователям высококачественные диагностические решения для лазерного анализа, в некоторых научных разработках или производственных приложениях неизбежно возникают две проблемы: небольшие лучи и высокая мощность.

Анализатор профиля лазера с фокусной фокусировкой отличается от анализатора пятна, который использует принцип лезвия или принцип щели, чтобыCMOSАнализатор пятна, который является основным детектором, может собирать истинное состояние сечения луча в реальном времени с помощью коэффициента умножения пикселей в программном обеспечении (PMFМожет быть достигнут предел минимального размера измерения луча камеры, и различные конфигурации могут лучше соответствовать потребностям пользователей.

Промышленные лазерные системы (ILMS(Перевизуализировать.)LensPlate2Компоненты и высокомощные пробоотборники (PPBS(Сочетание, черезWinCamD-LCMВ качестве конечного контрольно - измерительного оборудования,CMOSДатчик позволяет устройству отображать истинные значения для обнаружения сечения лазера, а мощный анализатор сфокусированных пятен усиливает пояс луча, чтобы он был на бесконечном расстоянии, при этом отбирая небольшую часть энергии луча,LensPlate2Комбинированное увеличение позволяет проводить полностью двумерные измерения точек луча размером до нескольких микрон.

ILMS использует оптические приборы для отбора проб и усиления луча черезWinCamD-LCMКонтуры изображений контролируют выход высокомощного оптического волокна или фокусировку луча.

Стоит отметить, что при использовании лазеров любой мощности необходимо соблюдать соответствующие протоколы лазерной безопасности, см.ANSIZ136.1Важно понимать световой путь, в том числе каждый раз, когда отражение проходит через стеклянную поверхность./Проницаемое состояние.PPBSПробиратель имеет три отверстия, которые излучают лазерное излучение,Residual 1、Residual 2АOutput. Большая часть мощности уйдетResidual 1Поверхность, ожидаемая мощность до99%Мощность луча уйдет.Residual 1，Residual 2Экспорт может быть ниже1%Или остаться50%Справа и справа конкретный выход зависит от материала, длины волны и входного поляризованного состояния. Будьте осторожны и предположите, что ловушки луча (или другие поглощающие энергию элементы будут горячими).

Примечание:650-1050 nmПорог повреждения линзы1000 W/cmА5.0 J/cm²

Коэффициент умножения (PMF* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * *

При использовании программного обеспечения для мощных лазерных профилографов,Pixel Multiplication FactorНеобходимо правильно настроить, чтобы программное обеспечение могло автоматически адаптироватьсяILMSУвеличить кратно. Коэффициент умножения (PMFНеобходимо установить обратный отсчет кратного увеличения, например: модельILMS-5X-LCMА5Требования к системе лазерного мониторингаPMFЗначение0.2（1 / 5(Как показано на рисунке ниже, все измеренные значения соответствуютPMFЗначения отображаются, когдаPMFПри правильной настройке нет необходимости вручную вычислять значение коррекции.

Промышленная лазерная система мониторинга (ILMS) Дизайн объектива:

Каждая линза в LensPlate2 предназначена для обеспечения оптимальной производительности лучей, приближающихся к оси при бесконечном соотношении сопряжённости.Для лазеров это означает, что луч с каждой стороны линзы должен быть выровнен для оптимальной производительности, как показано на рисунке.LensPlate2Калиброван таким образом, что при падении лучаWinCamDКогда датчик изображения, фокус выходной линзы будетWinCamD

Датчики изображения совпадают.

Выходная линза выпрямлена для удовлетворения требований к бесконечному соотношению сопряжения оптических характеристик.

Пример бесконечного сопряжениявнеосевое свойствоХайнер оптикаDatarayПроизводимые линзовые пластины, которые обычно предназначены для измерения осей с использованием ахроматических или асферических линз, охватывают большинство применений лазерных измерений. Для применения более совершенных внеосевых изображений обычно требуется входной объектив для коррекции внеосевых изображений. Такие объективы могут быть приобретены у третьих сторон и проданы как объективы с бесконечно далекой коррекцией микроскопов.